合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 存储器芯片内建自测试方法和电路装置

存储器芯片内建自测试方法和电路装置

821   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:20
本发明一种存储器芯片内建自测试方法和电路装置,所述方法包括:将原始测试向量输入至待测电路,以生成测试数据信号;将原始测试向量输入至寄存器中,使得原始测试向量与测试数据信号同步;对延迟后的原始测试向量和测试数据信号进行逻辑异或运算,以生成用于表示待测电路是否有效的测试结果指示信号;将延迟后的原始测试向量的相位反转180度生成反相测试向量,并将反相测试向量和测试数据信号进行逻辑与非运算,输出逻辑状态指示值,用于表示待测电路失效时,测试数据信号的逻辑状态;根据测试结果指示信号,择一输出用于表示待测电路的有效测试结果和逻辑状态指示值中的一种。能够判断出待测电路是否有效,而且进一步得到待测电路的失效形态。
声明:
“存储器芯片内建自测试方法和电路装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记