合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于测试集成电路的探针卡

用于测试集成电路的探针卡

722   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:17
本发明公开了一种用于测试集成电路的探针卡,包括探针座和检测电路板,所述探针上成型有止挡部,止挡部的下端抵靠在一弹性袋壳上,所述弹性袋壳中填充有气体,弹性袋壳上成型有出气口,所述出气口上铰接有密封门,密封门一侧的探针孔侧壁上成型有通气槽,通气槽的侧壁上设有气推活塞块,所述气推活塞块将通气槽分隔为通气区和复位区,所述复位区内设有复位弹簧,所述复位弹簧的一端压靠在气推活塞块上、另一端压靠在通气槽的端部内侧壁上;所述探针孔内插接有竖直的导电片,所述导电片的上端活动连接在止挡部上、下端连接在检测电路板上。本发明结构简单,制造及组装方便,同时能避免传统探针卡内弹簧机械疲劳失效而造成接触不良。
声明:
“用于测试集成电路的探针卡” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记