本发明公开了一种OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法,该方法在CP1阶段中,在程序区模拟一个测试接口,与量产ATE设备进行通信;同时,在CP1、CP2阶段将校准区的有用信息存储下来到公共网络端,在UV之后的CP3阶段,再将对应的公共网络端的有用信息写入到OTP存储区。本发明通过模拟测试接口实现对待测模块的访问,并与ATE设备进行通信,解决了OTP型MCU因没有测试接口导致无法量产测试的问题,解决OTP型MCU在某个测试接口失效导致无法测试的问题。
声明:
“OTP型MCU在未预留测试接口情况下的量产测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)