本发明涉及
芯片测试领域,提供一种用于经时击穿测试的探针卡以及经时击穿测试方法。所述用于经时击穿测试的探针卡包括:印制电路板以及设置于所述印制电路板的探针,所述印制电路板设有用于输入经时击穿测试信号的输入端,还包括限流元件,所述探针的第一端通过所述限流元件连接所述印制电路板的输入端,所述探针的第二端用于输出所述经时击穿测试信号。本发明通过限流元件吸收器件栅氧化层被击穿时的瞬间大电流,防止器件内部的其它结构被损坏(击穿),这种情况下器件处于早期损坏,容易确定早期损坏故障点的位置,有助于确定可靠性失效的根本原因。
声明:
“用于经时击穿测试的探针卡及经时击穿测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)