本发明提供了批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法,其操作简单方便,可批量对电子延期模块进行带电老化测试,从而降低产品的早期失效率,减轻人力工作量,并可实时监测工作状态;批量实现电子延期模块老化实验的测试系统包括老化测试工装,用于对至少一路待测样品施加老化测试条件;采集装置,与所述老化测试工装之间相连接,用于对所述待测样品进行电流采样,并将电流采样测试数据发送至上位机控制装置;上位机控制装置,与所述采集装置之间通信连接,用于发送测试信号指令,接收所述采集装置发送的电流采样测试数据,对测试数据进行存储分析,并对所述待测样品进行实时状态监测。
声明:
“批量实现电子延期模块老化实验的测试系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)