合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 介质层可靠性测试结构及测试方法

介质层可靠性测试结构及测试方法

729   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:10
本发明公开了一种介质层可靠性测试结构及测试方法,属于半导体技术领域,所述介质层可靠性测试结构包括:衬底,其上设置多个有源区;至少一个待测试介质层,设置在所述有源区上;多晶硅层,设置在所述待测试介质层上;辅助金属结构,设置在所述多晶硅层上,且所述辅助金属结构将所述多晶硅层区分为多种不规则的区域;以及辅助多晶硅结构,设置在所述衬底上,且环绕所述多晶硅层设置。通过本发明提供的一种介质层可靠性测试结构及测试方法,可提高失效分析的准确率和效率。
声明:
“介质层可靠性测试结构及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记