合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法

微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法

795   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:10
本发明提出一种微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法,包括下列步骤:对微电路进行老炼前电测试,记录产品测试数据;对该批次微电路按照老炼条件进行老炼试验;提取老炼前电测试的产品测试数据,参照电参数允许变化范围动态修改测试程序的极限值;对该颗成品微电路进行老炼后电测试,根据修改后的测试项条件判断结果并生成参数偏移量计算结果进行提交。本发明提出的微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法,通过动态修改测试程序极限值的实现,解决在量产过程中保证老炼后时效性的前提下,进行老炼参数偏移量计算、失效分析,并实现自动量产,提高产品质量和量产效率。
声明:
“微电路测试中动态修改测试程序极限值的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第一届矿产品采样与制样技术研讨会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记