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光耦继电器寿命的检测方法、装置、终端设备及存储介质

744   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:05
本申请提供一种光耦继电器寿命的检测方法、装置、终端设备及存储介质,其中,光耦继电器寿命的检测方法包括步骤:确定待测光耦继电器的初始参数;在一定的温度和湿度条件下对待测光耦继电器进行加电偏置试验,过程参数并在试验过程中监测光耦继电器开启电压的退化情况;测试待测光耦继电器在加电偏置结束时的开启电压,并作为试验后的参数;根据初始参数、过程参数和试验后的参数构建退化模型;根据退化模型、初始参数计算待测光耦继电器退化至失效所需的时间。本申请能够实现便于检测光耦继电器寿命。
声明:
“光耦继电器寿命的检测方法、装置、终端设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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