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用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统

808   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:04
本发明提出用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路,为维护人员提供维护依据,提前做好防范,减小不必要的损失。该结构建立于芯片上,包括:阈值设置模块,参数检测模块,比较模块,信息发送模块等。所述阈值设置模块,用以选择可以用来检测芯片状态的模块以及失效值;所述参数检测模块,用以实时获取芯片工作状态参数;所述比较模块,用以将即时的芯片工作参数与阈值数值进行比较;所述信息发送模块,可以将比较结果发送到相关人员设备处,由工作人员决定具体的维护工作内容。
声明:
“用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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