本发明提出用于预测
芯片寿命的芯片内建自检电路,为维护人员提供维护依据,提前做好防范,减小不必要的损失。该结构建立于芯片上,包括:阈值设置模块,参数检测模块,比较模块,信息发送模块等。所述阈值设置模块,用以选择可以用来检测芯片状态的模块以及失效值;所述参数检测模块,用以实时获取芯片工作状态参数;所述比较模块,用以将即时的芯片工作参数与阈值数值进行比较;所述信息发送模块,可以将比较结果发送到相关人员设备处,由工作人员决定具体的维护工作内容。
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