本发明公开了一种对相变存储器单元相变能力的快速检测方法,不需要使用开关单元,而是基于相变材料活化能特性,以及基于相变材料本征特性,通过各检测步骤获得了电阻漂移系数ν与剩余寿命N的关系,以及活化能E
σ与剩余寿命N的关系。通过测试与之相关联的电阻漂移过程来判断相变材料层的相变性能,不需要开关器件,而且测试过程始终为低的可读电流,不会降低器件寿命。可以依靠对照组来判断单元处于何种体质阶段,距离失效还有多远,而无需完整测试整个失效过程,大为减少测试时间。
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