合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 芯片检测方法及芯片检测装置

芯片检测方法及芯片检测装置

777   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:59
本发明涉及集成电路失效分析技术领域,尤其涉及一种芯片检测方法及芯片检测装置。所述芯片检测方法包括如下步骤:提供待测试的芯片,所述芯片中具有若干一次性可编程存储器;传输测试信号至所述芯片,使得所述芯片中的所述一次性可编程存储器保持在锁存状态;探测所述芯片是否发出微光信号,若是,则确认所述一次性可编程存储器存在漏电缺陷。本发明不仅能检测出已出现误烧穿的一次性可编程存储器,而且还能够检测出漏电情况相对较为轻微的一次性可编程存储器,避免了存在潜在烧穿风险的不良产品流入后续生产线。
声明:
“芯片检测方法及芯片检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记