本实用新型提供的电子元器件破坏性物理分析的样品座,涉及电子元器件制造行业的失效分析技术领域,包括上固定盘、底座上部与连杆连接的插孔、带固定结构的样品槽、螺丝钉、下固定盘、连杆插孔以及插销口,其中,上固定盘位于连杆节点下方,下固定盘位于插销口上方,上固定盘和下固定盘之间装弹簧。本实用新型提供一种电子元器件破坏性物理分析的样品座,有效消除了样品底面磨抛成凸面的可能。
声明:
“电子元器件破坏性物理分析的样品座” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)