合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于电路脆弱点识别的综合重要度分析方法

用于电路脆弱点识别的综合重要度分析方法

605   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:56
本发明提供了一种用于电路脆弱点识别的综合重要度分析方法,采用节点的关联重要度描述与该节点直接相连的节点个数,采用位置重要度描述网络中节点在网络拓扑中的位置,采用失效率重要度描述网络中节点自身发生失效的可能性大小,累加得到节点的综合重要度。本发明可以准确的分析得出复杂电子系统组成元器件重要度,有效地支撑了电子系统的剩余寿命预测或可靠性分析。
声明:
“用于电路脆弱点识别的综合重要度分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记