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基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法

869   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:39
一种基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法,该方法有四大步骤:步骤一:对SRAM型FPGA的配置网表文件进行解析,采用SelectMAP配置方法,利用可重构技术设计一套遍历式单粒子故障注入方法;步骤二:对FPGA进行功能电路配置,并对搭载有具体功能电路的FPGA实施遍历式故障注入试验;步骤三:收集敏感位数据,利用敏感位数据验证三模冗余设计的效率,并计算功能电路的敏感因子;步骤四:利用敏感因子计算功能电路的功能失效时间。本发明能够对搭载有功能电路的FPGA进行功能失效时间评估,计算功能电路时间参数,提高预测精度和运算效率,为单粒子加固提供数据上的支持,具有较好的可行性和推广价值。
声明:
“基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效时间评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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