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嵌入式闪存失效的筛选方法

870   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:37
本发明提供一种嵌入式闪存失效的筛选方法,包括提供嵌入式闪存;在片擦除操作的数据擦除模式下,通过监控嵌入式闪存的控栅端的电压值变化,判断嵌入式闪存是否失效;当控栅端的电压值大于参考值时,判断嵌入式闪存的位线与控栅之间存在虚短路现象,以判定嵌入式闪存失效;当控栅端的电压值等于参考值时,判断嵌入式闪存的位线与控栅之间不存在虚短路现象,以判断嵌入式闪存有效。本发明能够快速检测嵌入式闪存是否失效,判断周期短,提高了筛选效率。
声明:
“嵌入式闪存失效的筛选方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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