本发明公开了一种基于连续激光源的集成电路失效定位系统及方法,包括:基于红外激光器照射待测电路样品,获取所述待测电路样品的扫描数据;基于红外相机对所述待测电路样品进行拍照,获取电路布局图;将所述扫描数据与所述电路布局图进行对照,获得失效定位点。本发明解决了集成电路阻性失效的失效点定位问题,实现了集成电路阻性失效和晶体管栅极破损的精确、快速定位。提高了集成电路失效定位的测试效率和定位精度,为集成电路失效分析的研究提供了技术支持。
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