合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 基于连续激光源的集成电路失效定位系统及方法

基于连续激光源的集成电路失效定位系统及方法

857   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本发明公开了一种基于连续激光源的集成电路失效定位系统及方法,包括:基于红外激光器照射待测电路样品,获取所述待测电路样品的扫描数据;基于红外相机对所述待测电路样品进行拍照,获取电路布局图;将所述扫描数据与所述电路布局图进行对照,获得失效定位点。本发明解决了集成电路阻性失效的失效点定位问题,实现了集成电路阻性失效和晶体管栅极破损的精确、快速定位。提高了集成电路失效定位的测试效率和定位精度,为集成电路失效分析的研究提供了技术支持。
声明:
“基于连续激光源的集成电路失效定位系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记