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DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法

725   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本发明一种DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法,包括如下步骤,步骤1,针对DRAM晶圆测试流程中的任意功能测试项,给每个功能测试项分配一个变量,变量与功能测试项一一对应;步骤2,根据测试需求,对变量在晶圆测试开始后一次性赋值,控制是否捕获对应测试项的失效地址;步骤3,在执行功能测试项并通过地址失效寄存器AFM记录对应的失效地址后,根据当前测试项以及当前测试项的前一个测试项的变量赋值状况,控制是否读取地址失效寄存器AFM中的累积失效信息,并生成临时文件;步骤4,通过对生成的临时文件之间失效地址信息的比对,剔除掉重复的信息,最终生成当前测试项的失效地址文件。
声明:
“DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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