合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法

DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法

742   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本发明一种DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法,包括如下步骤,步骤1,针对DRAM晶圆测试流程中的任意功能测试项,给每个功能测试项分配一个变量,变量与功能测试项一一对应;步骤2,根据测试需求,对变量在晶圆测试开始后一次性赋值,控制是否捕获对应测试项的失效地址;步骤3,在执行功能测试项并通过地址失效寄存器AFM记录对应的失效地址后,根据当前测试项以及当前测试项的前一个测试项的变量赋值状况,控制是否读取地址失效寄存器AFM中的累积失效信息,并生成临时文件;步骤4,通过对生成的临时文件之间失效地址信息的比对,剔除掉重复的信息,最终生成当前测试项的失效地址文件。
声明:
“DRAM晶圆测试中精确捕获失效地址的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记