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集成电路失效位置检查用装置以及方法

654   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:33
本发明提供一种集成电路失效位置检查用装置,包括检查台,支撑架,热发射显微镜,可调节存放架结构,可调供电架结构,可调节监测架结构和显示屏,所述的检查台的下部螺栓安装有支撑架;所述的检查台的上部左侧安装有热发射显微镜;所述的热发射显微镜的下部设置有可调节存放架结构;所述的检查台的中上部安装有可调供电架结构。本发明T型旋转杆的垂直段胶接有橡胶绝缘套,有利于在使用时方便使用者握住T型旋转杆在定位槽内转动,同时方便对夹装在弹簧接线夹内的二极管进行翻转,实现全方位的检测。
声明:
“集成电路失效位置检查用装置以及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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