本发明提供一种集成电路失效位置检查用装置,包括检查台,支撑架,热发射显微镜,可调节存放架结构,可调供电架结构,可调节监测架结构和显示屏,所述的检查台的下部螺栓安装有支撑架;所述的检查台的上部左侧安装有热发射显微镜;所述的热发射显微镜的下部设置有可调节存放架结构;所述的检查台的中上部安装有可调供电架结构。本发明T型旋转杆的垂直段胶接有橡胶绝缘套,有利于在使用时方便使用者握住T型旋转杆在定位槽内转动,同时方便对夹装在弹簧接线夹内的二极管进行翻转,实现全方位的检测。
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