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用于SIM卡失效检测的方法、装置及产品

1117   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:32
本申请公开用于SIM卡失效检测方法,包括:将测试模块放置在设备的高温高湿内腔中;采用测试模块连接SIM卡的六个功能区的电极;采用提示模块获得SIM卡的工作状态;采用控制模块控制装置的控制界面;测试模块包括测试底板、载带齿孔、探针放置板、弹性探针和操作手柄,测试底板被用于平行放置不多于2条SIM卡载带,载带齿孔被设置于测试底板上,载带齿孔被用于将SIM卡固定在测试底板上,探针放置板被设置于测试底板的上方,弹性探针被设置于探针放置板上,弹性探针被用于在探针放置板被下压时连接测试底板上SIM卡的功能区电极,操作手柄被用于控制所述探针放置板上下移动。本申请还公开一种用于SIM卡失效检测的装置及产品。
声明:
“用于SIM卡失效检测的方法、装置及产品” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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