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芯片中静态电流失效器件的检测方法和装置

845   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
一种芯片中静态电流失效器件的检测方法和装置,所述方法包括:判定所述芯片中是否存在静态电流失效器件;当所述芯片中存在静态电流失效器件时,检测所述芯片中的热点位置;当所述热点有至少两个时,根据所述热点在电路版图文件中的位置信息,选取所述热点的共同电路路径;将所述共同电路路径的版图转换为对应的电路图,并将所述热点位置标识于所述电路图的对应位置;检测所述热点在所述电路图中的共通器件;在所述电路版图中标识所述共通器件的位置作为所述静态电流失效器件的位置。通过所述方法和装置,能够在版图的相应处快速准确地找到失效点,从而提高检测的准确性,以及节省检测时间。
声明:
“芯片中静态电流失效器件的检测方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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