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微小芯片的失效分析中的样品制备方法

633   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本发明公开了一种微小芯片的失效分析中的样品制备方法,在微小芯片的样品的外围利用模具外壳填充有机介质,然后对有机介质进行加热固化使其与所述微小芯片样品形成一块整体的结构,然后再对所述的包含有微小芯片样品的整体进行研磨。通过固化的有机介质,增大了微小芯片的延展面积,在研磨时能形成更大的研磨面积,从而进一步控制微小芯片外围磨耗,使制样更加均匀。
声明:
“微小芯片的失效分析中的样品制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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