合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 发光二极管失效分析解剖装置

发光二极管失效分析解剖装置

708   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本实用新型公开一种发光二极管失效分析解剖装置,包括操作平台、调温加热台及体视显微镜;操作平台设置加热板,该加热板与调温加热台电连接,加热板加热发光二极管表面封装胶体;操作平台置于体视显微镜的视场范围中。本实用新型可以减少损伤LED芯片,提高失效异常分析的准确性,同时提高LED芯片解剖效率。
声明:
“发光二极管失效分析解剖装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记