合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 芯片固定装置及制备失效分析样品的方法

芯片固定装置及制备失效分析样品的方法

906   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本发明提供了一种芯片固定装置及制备失效分析样品的方法,通过将芯片样品贴附于芯片固定装置上,通过固定芯片样品提供化学研磨过程中需要的反摩擦力和反离心力,实现自动化学研磨,从而实现批量自动制备失效分析样品,提高了失效分析样品预处理的效率,提高了失效分析样品制备的成功率,同时节省了人力资源;同时,在压力调节装置中设置有弹簧,通过调节阀调节弹簧的松紧,从而调节施加在化学研磨平台上的压力,实现化学研磨速度的调节,提高了化学研磨的效率。
声明:
“芯片固定装置及制备失效分析样品的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记