本实用新型公开了一种用于SEM/FIB失效分析的样品座,包括定位圆柱、样品存放台和固定螺丝,所示定位圆柱设置在样品存放台底部,所述样品存放台上表面开设有至少四个样品槽,每个样品槽分别对应有固定螺丝,所述固定螺丝从样品存放台侧部分别伸入到各个样品槽内。本实用新型通能同时观测多个样品,提高物性失效分析的效率;可以把多个铜工艺样品尽快放入真空室内避免被氧化污染;避免多次置换样品,保持真空值提高分辨率;改进样品固定螺丝美观且容易控制力度,避免样品被夹碎。
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