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用于SEM/ FIB失效分析的样品座

762   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:30
本实用新型公开了一种用于SEM/FIB失效分析的样品座,包括定位圆柱、样品存放台和固定螺丝,所示定位圆柱设置在样品存放台底部,所述样品存放台上表面开设有至少四个样品槽,每个样品槽分别对应有固定螺丝,所述固定螺丝从样品存放台侧部分别伸入到各个样品槽内。本实用新型通能同时观测多个样品,提高物性失效分析的效率;可以把多个铜工艺样品尽快放入真空室内避免被氧化污染;避免多次置换样品,保持真空值提高分辨率;改进样品固定螺丝美观且容易控制力度,避免样品被夹碎。
声明:
“用于SEM/ FIB失效分析的样品座” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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