合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 激光器芯片失效定位分析样品制备方法及中间件

激光器芯片失效定位分析样品制备方法及中间件

679   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:30
本发明涉及一种激光器芯片失效定位分析样品制备方法及中间件。该方法及中间件连带热沉一同取下,在芯片周围粘接垫脚用作保护,通过研磨的方式去掉热沉,持续研磨去除衬底处金层,至芯片衬底完全露出,适用于多种封装形式的半导体激光器芯片,也适用于不同材料体系的如ⅢⅤ族、ⅡⅥ族、硅基的半导体激光器芯片,该方法可直接对百um量级微小易碎的激光器芯片进行制样,无需采用各种精密的微纳米加工设备。注重对样品保护,可有效避免在失效样品取样过程中或制样过程中的样品损伤。制样完成后探测点在同一平面上,便于加电测试。采用的可清洗粘接剂,样品可取出,利于后续其他分析。
声明:
“激光器芯片失效定位分析样品制备方法及中间件” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记