本申请公开了一种
芯片失效分析方法、装置、设备及存储介质,从待测芯片的记忆模块中获取所述待测芯片的唯一识别码,根据所述唯一识别码获取预先存储的所述待测芯片的生产信息,根据所述生产信息对所述待测芯片进行失效分析。本方案中,由于保存在芯片记忆模块内的唯一识别码不易丢失和混淆,从而使得芯片失效分析可以顺利进行,满足了客户要求,降低了成本。
声明:
“芯片失效分析方法、装置、设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)