本申请公开了一种晶硅
太阳能电池的失效分析方法,包括测试失效的晶硅太阳能电池的第一性能;去除所述晶硅太阳能电池的正面和背面的金属,露出减反射膜层和钝化层,测量此时电池的第二性能,包括光学性能、电学性能和所述减反射膜层的厚度;去除所述晶硅太阳能电池的正面和背面的减反射膜层和钝化层,露出扩散层,测量此时的第三性能;去除所述晶硅太阳能电池的正面和背面的扩散层,测量此时电池的第四性能;根据所述第一性能、所述第二性能、所述第三性能和所述第四性能分析出电池失效原因。上述方法能够对电池进行层层剖析,细节到针对每环工序去查找
电池片低效的原因,达到量产增效的目的。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)