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电学失效分析方法及相关装置

758   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本申请提供一种电学失效分析方法,包括:获取晶圆的各个失效晶粒的失效日志;根据失效晶粒的失效日志中高频测试结果和低频测试结果,确定各个高频主导失效晶粒和各个低频主导失效晶粒;获取当前高频主导失效权重值;根据各个高频主导失效晶粒的各个结构层的高频失效尺寸、各个低频主导失效晶粒的各个结构层的低频失效尺寸、当前高频主导失效权重值和晶圆的各个结构层的设计尺寸,获取各个结构层的失效偏差值,根据失效偏差值和预定偏差阈值,调整当前高频主导失效权重值,直至至少一个结构层的失效偏差值满足预定偏差阈值,获取与最大的失效偏差值相对应的最大失效影响层。本申请实施例所提供的电学失效分析方法,可以提高电学失效分析的准确性。
声明:
“电学失效分析方法及相关装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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