合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于失效分析的样品的处理方法及失效分析方法

用于失效分析的样品的处理方法及失效分析方法

1249   编辑:管理员   来源:中冶有色网  
2023-03-19 08:59:29
本发明提供了一种用于失效分析的样品的处理方法及失效分析方法,所述用于失效分析的样品的处理方法包括:在晶圆上获取待分析的芯片样品;将所述芯片样品去层至目标铜金属层结构上表面;在所述目标铜金属层结构上表面的待检测位置形成镀碳保护层。本发明的技术方案降低了金属表面出现铜扩散的概率,使得在失效分析过程中制备芯片样品的失败率大大降低,并且缩短了分析周期,加快了找到芯片失效关键原因的速度。
登录解锁全文
声明:
“用于失效分析的样品的处理方法及失效分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
         
咨询细节
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

2025年10月15日 ~ 17日
2025年10月17日 ~ 19日
2025年10月31日 ~ 11月02日
2025年11月07日 ~ 09日

报告下载

赤泥综合利用研究报告2025
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记