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测试结构、失效分析定位方法及失效分析方法

858   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:29
本发明提供了一种测试结构,包括蛇形金属线和两个相对交错设置的测试梳状结构,每个测试梳状结构分成至少两个子梳状结构,且每个所述测试梳状结构中的相邻两个所述子梳状结构之间具有间隔,且每个所述测试梳状结构中的至少一个所述间隔处的所述蛇形金属线的至少一个拐弯部位上引出有焊盘。即通过上述方法将所述测试结构分成了若干个小面积的测试结构,能够解决EBIRCH不能定位到超大面积结构nA级别漏电的短路点的问题;同时结合电阻比例法,以使得EBIRCH能轻易定位到超大面积结构nA级别漏电的短路点,从而找到失效的根本原因,对解决工艺问题以及促进研发进度能有很大的帮助。
声明:
“测试结构、失效分析定位方法及失效分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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