合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 失效分析专用载板、测试设备、芯片电性失效分析的方法

失效分析专用载板、测试设备、芯片电性失效分析的方法

892   编辑:管理员   来源:中冶有色网  
2023-03-19 08:59:29
本发明提供一种针对待测芯片设计专用载板、测试设备、芯片电性失效分析的方法,所述方法包括:针对待测芯片设计专用载板,所述载板包括位于待测芯片容纳区域的焊盘阵列、用于与测试机台进行信号传输的针脚阵列,以及连接所述针脚阵列和焊盘阵列的金属连线;将待测芯片采用SMT技术贴装于所述载板上。本发明提供的芯片电性失效分析的方法和用于芯片电性失效分析的专用载板以及测试设备能够方便快捷的完成硬件准备,且能够容易的实现大管脚数目芯片测试的芯片失效分析。
登录解锁全文
声明:
“失效分析专用载板、测试设备、芯片电性失效分析的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
         
咨询细节
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

2025年10月15日 ~ 17日
2025年10月17日 ~ 19日
2025年10月31日 ~ 11月02日
2025年11月07日 ~ 09日

报告下载

赤泥综合利用研究报告2025
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记