本发明公开了一种水稻纹枯病识别方法、系统、设备及介质,步骤包括:获取水稻的原始高光谱数据并进行标准化处理,然后计算一阶微分光谱特征和连续统去除特征,根据植被指数计算指数特征,将以上特征分别与纹枯病不同染病程度进行相关性分析并结合阈值法选取出第一光谱特征集,根据独立样本T检验方法筛选出以上在不同染病程度的作物样本中呈现显著差异的第二光谱特征集,从第一光谱特征集与第二光谱特征集中取交集得到最优光谱特征集,将最优光谱特征集输入支持向量机模型得到识别结果,通过识别结果评估水稻品种纹枯病抗病程度,以快速、无损的方式完成纹枯病发病调查,并解决了人工田间调查数据冗余度高、主观性高与监测精度差的缺陷。
声明:
“水稻纹枯病识别方法、系统、设备及介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)