本实用新型提供一种CSK-IA类试块,其结构是一长不大于300MM,宽不大于150MM,高不大于40MM的长方体,其中试块体左下角加工有圆角,有一定的曲率半径,一般不大于180MM;在试块的中间垂直钻有数量不等的孔,根据需要还可以设置一些槽。该类试块和现有技术相比,具有设计合理、结构简单、制造精度高、测试范围宽、使用方便等特点,因而在无损检测行业具有很好的推广使用价值。
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