本发明属于无损检测技术领域,涉及一种基于巨磁电阻传感器的金属导体缺陷识别及估计方法,该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体,巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部,永磁体固定于激励线圈的外侧,包括:将检测探头放置于被测试件表面,对激励线圈施加正弦信号,移动检测探头对被测试件进行扫描;对巨磁电阻传感器的输出信号进行解调,得到幅值和相角信息;记录检测探头扫描过程中的位置;分别绘制幅值随探头位置变化的曲线和相角随探头位置变化的曲线;对扫描位置是否存在缺陷进行判断;估计缺陷的位置及大小。本发明具有操作简单,响应速度快,实时性好,同时具有判断和估计准确,易于实施等优点。
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“基于巨磁电阻传感器的金属导体缺陷识别及估计方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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