仪器简介
Xstress 3000是先进的X射线应力仪,采用固态线性探测器技术,可以有效准确的测量晶体材料的残余应力,与之配套的XTronic软件,能实现直线和椭圆拟合数据、Dolle-Hauk、以及三轴应力测试方法。还包括多种高级拟合函数:如抛物线法、高斯法、皮尔森法、柯西法、中心法、重心法、中心重心法。峰强、积分宽度、半高宽以及ψ点位的图形展示提供了详实易懂的测量结果。通过PROTO 8818-V3能实现对材料表面抛光,去掉表面干扰层,获得更真实的应力结果,还能对材料进行剥层,获得沿深度方向的残余应力。
性能指标
管流:0~10mA,连续可调;
管压: 5~30kV,连续可调;
最大功率:300W;
有50、75、100mm三套衍射半径;
可测定直径150mm的管内壁残余应力;
侧倾法、同倾法通用;
2θ角范围:110°~170°,连续可调;
ψ角范围: -60°~+60°;
测试深度:10~20μm
测试项目
采用Cr射线管可对钢铁及
铝合金材料进行表面残余应力测量;采用Mn射线管可对
镍基合金及高温合金材料进行表面残余应力测量
样品要求
可对待测样品进行预处理,但需要采用化学方法,不破坏原始表面应力待测样品高度不超过800mm主要测量晶体材料