合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于CLYC晶体的中子、γ射线复合照相的方法及系统

基于CLYC晶体的中子、γ射线复合照相的方法及系统

775   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:40
本公开实施例公开了一种基于CLYC晶体的中子、γ射线复合照相的方法及系统,所述方法包括:CLYC晶体探测准直中子、γ射线的混合射线束照射被检物体后,透射出的混合射线束,发出可甄别的荧光;位置灵敏光电倍增管采集CLYC晶体发出的可甄别的荧光,将荧光信号转换为电信号并记录荧光位置信息;信号放大单元对所述电信号进行放大和降噪处理;信号甄别单元对所述荧光位置信息进行甄别;数据处理单元对甄别后的电信号进行模数转换和图像处理;显示单元上呈现被检物体的中子照相图片和γ照相图片。该技术方案既能够充分利用两种射线无损检测方法的互补优势,提高无损检测能力,又能够提高效率,消除两种射线在单独开展无损检测时的相互干扰因素。
声明:
“基于CLYC晶体的中子、γ射线复合照相的方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记