本发明公开了一种金箔含金量的快速测定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1、对金箔样品进行前处理;步骤2、轧紧金箔样品;步骤3、仪器测试。本发明通过对金箔样品进行前处理,再用X荧光光谱法测试,一方面解决了有损方法带来的样品称量误差的问题,另一方面更是很好的克服了金箔样品厚度薄,在X荧光光谱仪测试中易被X荧光光束击穿,导致数据失真的缺陷,具有快速、准确、无损耗的优点。
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