合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于典型缺陷特征的KDP晶体损伤阈值预测方法

基于典型缺陷特征的KDP晶体损伤阈值预测方法

875   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:31
本发明公开了一种基于典型缺陷特征的KDP晶体损伤阈值预测方法,实施步骤包括:预先建立KDP晶体各种典型表面缺陷的光热弱吸收水平与损伤阈值的对应关系;针对待测KDP晶体的表面缺陷进行特征检测确定典型缺陷类型;针对典型表面缺陷区域进行光热弱吸收测量实验得到典型表面缺陷的光热弱吸收值,将典型缺陷类型、典型表面缺陷的光热弱吸收值代入KDP晶体各种典型缺陷的光热弱吸收水平与损伤阈值的对应关系,得到典型表面缺陷的损伤阈值。本发明无损KDP晶体即可进行损伤阈值估计,可避免损伤阈值测试方法的缺陷,不会对晶体造成损伤,提高晶体的利用率,节省加工成本,还能够提升KDP晶体的表面缺陷、用于指导KDP晶体加工工艺。
声明:
“基于典型缺陷特征的KDP晶体损伤阈值预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记