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单透镜型晶片基底温度测量装置

1115   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:29
本发明公开了一种单透镜型晶片基底温度测量装置,属于半导体材料无损检测技术领域。该装置在光束入射至晶片基底之前,将透镜设置于分光平片之后,而在形成第二种反射光束之后,将透镜设置于分光平片之前,这样,只需要应用一个透镜即可,无需选用两个透镜,或者,在选用激光器和探测器时,无需它们自身集成有透镜,使得检测晶片基底二维形貌的装置的成本降低。
声明:
“单透镜型晶片基底温度测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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