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基于衰减全反射红外光谱的痕迹遗留时间的测量方法

1108   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:29
一种基于衰减全反射红外光谱的痕迹遗留时间的测量方法,采集检材痕迹的红外光谱数据,制作样本痕迹,分类样本,采集样本数据集,使用神经网络建立样本痕迹的红外光谱数据与遗留时间的对应关系模型并验证精度,将检材痕迹的红外光谱数据录入符合精度要求的模型,模拟检材痕迹的遗留时间,评估模拟结果,必要时扩充样本数据集;该方法重现性好,制样简便,结果稳定可靠,检测精度高,满足刑侦领域中进行快速无损鉴定的需要。
声明:
“基于衰减全反射红外光谱的痕迹遗留时间的测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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