合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 半导体制程量测数据的预测方法

半导体制程量测数据的预测方法

692   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:26
本发明提供一种半导体制程量测数据的预测方法,包括:提供一晶圆的历史量测数据及与历史原始过程数据;利用自编码器对第一时间序列数据进行时间步缩短处理,以获得第二时间序列数据;利用第二时间序列数据及历史量测数据对预测模型进行拟合训练,预测模型包括transformer编码器及多层感知机;将待预测原始过程数据输入时间步缩短模型及预测模型,以获得预测量测数据。本发明中,通过自编码器对时间序列数据进行时间步上的缩短,以在无损特征信息前提下以利于提高整体的计算效率,再利用transformer编码器的并行计算以提高计算速度,以及利用自注意力机制在获取数据的大小特征的同时兼顾时间步上的特征,以提高预测的准确率。
声明:
“半导体制程量测数据的预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记