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针对高深宽比曲面构件面形测量的测量系统及方法

865   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:23
本发明公开一种针对高深宽比曲面构件面形测量的测量系统,其包括双探头测量机构、探头驱动机构、构件移动机构,双探头测量机构包括激光干涉光针及扫描触针,两者探头间隔设置,并依次对曲面构件进行扫描;探头驱动机构驱动双探头测量机构对曲面构件进行随形扫描;构件移动机构带动曲面构件作回转运动。本发明还公开了基于上述测量系统的测量方法,其综合激光干涉光针在曲面轮廓、无损检测方面的优势以及高长径比扫描触针对大曲率、小间隙结构的检测优势,并优化其测量方法,实现了复杂高深宽比曲面构件跨尺度特征的全表面检测。
声明:
“针对高深宽比曲面构件面形测量的测量系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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