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用于检查电子器件的方法

1117   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:23
本发明涉及一种用于对电子器件进行缺陷检查的方法,所述方法具有以下步骤:通过自动光学检查对生产线中的电子器件进行检查;确定无法用自动光学检查进行检查的区域的坐标;将所述区域的坐标从生产线传输给计算机;将电子器件从生产线转移到用于无损材料检测的X射线装置中,所述X射线装置设置在生产线之外;将所述区域的坐标由计算机传输给X射线装置;仅在不能利用自动光学检查进行检查的区域中,通过X射线装置进行检查;将在X射线装置中进行的检查的结果传输给计算机;如果结果是电子器件没有缺陷,则将所述电子器件回送到生产线中。
声明:
“用于检查电子器件的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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