一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱的制作方法,属于无损检测领域,其特征是:首先收集带有不同缺陷的零部件试样,进行物理金相测试;然后对零部件试样进行荧光渗透检测;将试样的物理金相结果与荧光渗透检测结果进行对比,绘制对比图谱。有益效果是:本发明提供的荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱,能有效地模拟被检件真实缺陷显示的大小及等级;为无损检测领域中,荧光渗透检验标准的制作提供了一种新方法;该对比图谱使用方便、检测准确、可人为控制,为生产过程节约了大量人力、物力。
声明:
“荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱及其制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)