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半导体激光器可靠性检测分析方法及其装置

766   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:07
本发明涉及一种半导体激光器参数测试和可靠性分析的方法及装置。该装置主要由微机(1)、样品箱(3)、数据采集板(4)、电流电压转换电路(7)、光电探测器(30)、电压电流转换电路(10)及信号源(11)和锁相放大器(8)等构成。通过对器件(29)电导数曲线、热阻、功率及变温曲线等的测试,用测得的参数对器件进行可靠性分析。本发明具有微机化、自动化、加温均匀、一次逐个检测多个器件等特点,实现对器件可靠性无损、快速、简便的检测和分析。
声明:
“半导体激光器可靠性检测分析方法及其装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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