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高精度光折变晶体干涉无损探伤设备及方法

667   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:03
本发明涉及一种高精度光折变晶体干涉无损探伤设备,包括:分束镜布置在激光器的出射端,且其具有两个出射端;振镜布置在分束镜的其中一个出射端;1/2波片布置在分束镜的另一个出射端;偏振分光镜布置在1/2波片的出射端;第一1/4波片布置在偏振分光镜的出射端;第一场镜布置在第一1/4波片的出射端;光折变晶体布置在偏振分光镜的出射端;反光器件布置在偏振分光镜的出射端;第二1/4波片布置在反光器件的出射端与光折变晶体的入射端之间;光电探测器布置在光折变晶体的出射端;信号处理器分别与激光器、振镜和光电探测器电连接。有益效果是:激光激励和激光干涉仪用同一个光源;设备灵敏度高;能测量粗糙平面的振动信号。
声明:
“高精度光折变晶体干涉无损探伤设备及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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