合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 用于SIM卡芯片的无损测量方法

用于SIM卡芯片的无损测量方法

737   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:58
本发明公开了一种用于SIM卡芯片的无损测量方法,SIM卡芯片置于SIM卡模块内部,该无损测量方法包括以下步骤:S1,将SIM卡模块放置在超声扫描显微镜的试验台上;S2,将超声扫描显微镜开启正面扫描模式,直接对SIM卡模块进行检测;S3,将超声扫描显微镜开启反射扫描模式生成超声波图像和波形曲线;S4,对波形曲线进行图形分析;S5,根据公式计算出SIM卡芯片的厚度值;S6,根据步骤S5中计算得到的SIM卡芯片的厚度值与规定的厚度值范围进行比对。本发明的SIM卡芯片测量方法为无损检测手段,不会破坏芯片,不影响后续使用,且简单易操作、准确度高、可以大大节省测量时间和成本,有利于大批量、快速的样品检测。
声明:
“用于SIM卡芯片的无损测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记