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LED外延片的无损测试装置及测试方法

960   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:58
本发明涉及一种LED外延片的无损测试装置及测试方法,包括电流源及连接电流源的N极测试针、P极测试针,N极测试针、P极测试针的针头均包有焊锡、铟粒混合的铟锡方块,铟锡方块的高度h的取值范围为a≤h≤b,a是指LED外延片中N型GaN层下表面及其下面所有层的厚度和,b是指LED外延片中N型GaN层上表面及其下面所有层的厚度和。铟锡方块与现有的铟粒相比,硬度大,不易变形,导电性好;避免了每次测试时都要用新铟粒造成的材料浪费,同时,避免铟粒粘附在LED外延片表层造成的污染等问题。
声明:
“LED外延片的无损测试装置及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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