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基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法

800   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:56
本发明提出一种基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,包括以下步骤:步骤S1:获取西瓜的可见/近红外光谱;步骤S2:对步骤S1获取的光谱提取峰值peak1和峰值peak2;步骤S3:计算RPP值和/或NDIP值:RPP=peak1/peak2;NDIP=(peak1+peak2)/(peak1‑peak2);步骤S4:对多个西瓜样本执行步骤S1‑步骤S3,对计算获得的RPP值和/或NDIP值的数据集进行训练,通过遗传算法获得RPP和/或NPID的边界校正因子CRPP和/或CNDIP。该方法能够有效分辨成熟的西瓜、减少未成熟西瓜的采摘,实现经济利益的最大化。
声明:
“基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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