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光栅无损检测方法及系统

756   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:55
本发明提供了一种光栅无损检测方法及系统,方法包括:获取样品光栅图像;对样品光栅图像进行背景校正,获得样品光栅透射图;对样品光栅透射图提取样本区域进行分析,获得样品光栅透射图的像素灰度平均值;根据样本区域以及像素灰度平均值判断样品光栅的均匀性;采用Sobel算子对样品光栅透射图进行缺陷提取;将均匀性结果信息和缺陷信息进行显示;该方法通过对样品光栅透射图采样,计算样本区域的相对误差、方差,提取直方图,从而对样品光栅的均匀性进行判断,根据光栅的结构特点,利用Sobel算子消除垂直方向的条纹,从而查找出非垂直方向轮廓的缺陷,方法简单,可靠性高,无需破坏光栅即可检测出样品光栅的均匀性,为样品光栅是否能投入使用提供依据。
声明:
“光栅无损检测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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